测试键数：10个(可以扩充到128个)。

　　按键次数：1—9999999次任意设定。

　　按键压力：按键压力大小可以任意调节。

　　按键方式：可以设定各种按键的方式、按键频率、下压延时、弹开延时、闭合时间、断开时间、间断性测试（间断性测试方式可以避免因过度疲劳老化的原因造成的测试结果不准确）、 自编程测试等等。

　　数据设定：可以设定任何一个按键的测试次数（1-9999999次）。

　　自动计数：自动记录按键的动作次数、闭合次数、断开次数、接触不良次数等等，自动统计所有按键的相关数据，自动对批量按键的测试数据进行分类保存。

　　智能分析：自动对测试过程中所记录的所有数据进行分析，自动计算被测按键的可靠闭合率和闭合后的可靠弹开率，自动分析多个按键同时检测时的测试数据，批量数据处理，实时动态动态报告当前测试结果。

　　电阻监控：实时监控连接按键的线路电阻阻值。

　　批量处理：寿命测试一般都属于抽检测测试，采用随机取样、批量处理的检测方式和批量数据分析可以得到更准确和更具参考价值的测试结果，使测试数据更具代表性。