图是非接触式IC卡片用读写器(RW: Read & Writer)的动作原理，如图所示非接触式IC卡片本身并无电源，因此RW供应电源给IC卡片的同时还必需进行通信作业，RW与loop天线亦即IC卡片的天线变成电磁性结合状态，RW利用13.56MHz的传输波供应电源给IC卡。

　　此时RW若传送资料给IC卡片时，RW会传输变调度大约10%左右的ASK(振幅输变)信号给IC卡片，IC卡片检测该信号并转换成资料；反之如果从IC卡片传送资料给RW时，IC卡片变成从RW接收无变调信号状态，接着利用IC卡片内的变调器产生负载变动，RW将此负载变动当成自我loop天线，亦即RW的天线的电流、电压变化检测并将资料复调。表1是FeilCa的物理层与资料链层的主要规格。

　　介绍有关如何达成「完全无错误」的电路品质与错误控制相关技术。最近几年强大的错误修正技术，使得许多完全无错误化的要求获得实现，由于非接触式IC卡片通信系统的packet长度高达数百位元，因此错误修正效果几乎被局限在随机错误(random error)范围，理论上如果能维持比较良好的位元错误率，会比采用低编码效率与不良的修正码更具实用效果，依此判断研究人员最后决定采用低冗长度，而且可以对错误检测码进行再送控制的混合方式，事实上传统FeilCa也是沿袭上述架构进行错误救济再送控制。

　　不过上述方式回路的位元错误率会变差，而且再送次数则大幅增加，其结果反而会造成非接触式IC卡通信系统的通信成功率恶化，例如packet长度为256进行2次再送时，为获得通信错误率10-8，回路的位元错误率必需低于10-5，此时若以ASK的非同步检波获得10-5的位元错误率，S/N比大约需要15dB左右，如此才能确保RW的预期目标。实现以上位元错误率目标值的关键，是如何对策阻抗(impedance)特性变动的技术，具体内容分别是:

　　‧非接触式IC卡片特性变动的对策

　　‧RW设置环境的适应性

　　非接触式IC卡片具备无形状上限制等特徵，因此最近几年甚至出现内建非接触式IC晶片的手表与list band等商品，依此观之未来势必推广至移动电话等领域，然而RW的广泛应用却造成RW的相容性、如何同时辨识复数非接触式IC卡片、如何设计复数RW之间不会相互干扰等问题成为重要课题，亦即今后必需克服以下问题:

　　‧支援多样化媒体与周围环境的适应性

　　‧复数非接触式IC卡片的辨识能力

　　‧抑制复数RW之间相互干扰