科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科利登系统公司在ICChina2005上展出了其Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能、多功能的圆片和封装测试系统,特别为微控制器、无线基带、显示驱动控制器及消费类混合信号器件的低成本测试而设计。此系统可支持200Mbps的圆片测试,提供很高的并行测试能力。
Sapphire D-10把科利登现有的IP核心和先进的底层数据传输技术整合在一起,集成了更多的功能。科利登自身研发的专用芯片Omni能为数字仪器提供极高密度的数字通道,在单芯片上实现了逻辑边沿和周期的发生、APG以及测试向量顺序控制等所有功能。高速的数据交换网络的底层使数据能够以500MB/s的速度在整个系统内传输,减少了测试时间,提高了产能。
可再配置的Sapphire D-10测试系统能灵活应对新产品或多种类型的产品测试,它拥有10个可互换的仪器插槽,开放式的结构支持即插即用以及通用插槽功能,易于拓展。用户还能够使用第三方的成熟仪器定制自己的配置,实现一些特殊功能,进一步地拓展平台的灵活性。Sapphire D-10有很高的并行测试能力,最多能同时进行256个芯片的测试,并能提供768个200Mbps的数字通道。D-10的仪器套件也是为并行测试而设计的,包括16通道的高性能电源板DPS16、四象限16通道的V/I源VIS16、高密度的DPIN96数字通道卡以及数模混合仪器。
与其它类似的测试系统相比,采用风冷设备的Sapphire D-10系统的能耗更低。另外,该系统体积小巧,其便携性使它不需要任何复杂的固定器械和环境设施,可以很方便的使用,并能够简化调试和特性分析,不需占用工厂宝贵的生产测试时间。Sapphire D-10具有一整套专用软件,包括集成的测试环境、程序开发器、频率计算工具、模拟波形工具、交互的图形调试工具等,它们能够加速测试程序的调试和开发,降低每枚芯片的测试费用,并加快新产品的上市时间。
