当工程师们面对几G比特率的串行数据信号的信号路径并对其效果进行精确特征化时,他们往往遇到非常大的挑战。目前能够用来完成这一特征化工作的方法通常非常昂贵或者难以实施。由泰克提供的运行于TDS8200系列采样示波器上的IConnect软件能为工程师在对G比特率互联链接以及设备测试时提供基于测量参数的性能特征化,从而大大减少测试的复杂程度以及相应成本。IConnect的应用包括信号路径完整性分析,阻抗特征化,眼图一致性测试仪及错误
当工程师们面对几G比特率的串行数据信号的信号路径并对其效果进行精确特征化时,他们往往遇到非常大的挑战。目前能够用来完成这一特征化工作的方法通常非常昂贵或者难以实施。由泰克提供的运行于TDS8200
系列采样
示波器上的IConnect软件能为工程师在对G比特率互联链接以及设备测试时提供基于测量参数的性能特征化,从而大大减少测试的复杂程度以及相应成本。IConnect的应用包括信号路径完整性分析,阻抗特征化,眼图一致性测试仪及错误隔离等。泰克宣布新的3.6版IConnect将增加新的功能以及一系列全新特性从而进一步改善工程设计的效率和测试的简易程度。
IConnect3.6版在其阻抗校准方面（Z-line）增加了50欧姆,从而提高了阻抗测量的精确度。在新版本的产品中,IConnect同时增加了为被动连接生成串音效应眼图的功能,在生成一个眼图时将能够同时包括8个干扰源。3.6版提供了输出2路和4路Touchstone S参数的功能,从而满足了数字系统模拟对于S参数日益增长的需求。IConnect S参数和Z-Line 作为IConnect的一部分提供给客户,同时也可作为单独使用的工具。
IConnect Z-line为多阻抗复杂互联的阻抗测试提供了更好的测试精度,令失效定位更加精确并提高示波器的解析度和精度。泰克在基于
TDR的S参数测量领域一向处于领先的地位,而IConnect的S参数测量为数字设计,信号完整性分析和互联一致性测试提供了高性价比且快速易行的方法。如果使用相同带宽测量设备,这一方式同传统VNA S参数测量测量设备相比将令用户节省50%的时间,从而大大减少用户消耗在测量工作中的时间。使用参照波形（开放,短波或者穿越）的S-参数校准以及可选的50欧姆加载波形能够简化测量,夹具拆卸以及卸载参照层。
从事一致性测试的工程师和技术人员通常需要依照串行
ATA,
PCIExpress以及Infiniband以及Gigabit以太网等电气标准对串扰进行回馈损耗（S参数）以及眼图测试。当数据速率高于2-3Gbs/s时,用户将很难采用传统的SPICE模式精确地模拟Gigabit互联。为了解决这个问题,Spice工具越来越多地开始支持S参数模拟。为了对这一需求提供支持,泰克为IConnect增加了为2个和4个接口以高度便携的Touchstone数据文件格式输出S参数数据的能力,这令工程师更为轻松地将S参数包括到模拟当中。
随着高速串行界面的出现,对于
连接器以及线缆组合的分析变得更为复杂。IConnect现在所具备的眼图生成功能中将包含串扰对被动连接的影响。这一特性允许设计者能够迅速地对被动物理层设备进行一致性测试,这一应用对测试线缆组装设备和主干设备的测试尤其有用,同时用户在获得此类信息无需依赖VNA(矢量网络测试仪)及其相关的信号生成器,这将大大节约用户的成本和时间。
“IConnect3.6版对于需要对高速串行数据设计进行精确特征化的工程师们提供了高效易用且极具性价比的方案,”泰克
光电产品线总经理John Taggart说,“利用3.6版IConnect的新功能,我们的用户将能在业界最强劲的采样示波器上享受到目前最为先进的测试软件所带来的益处。同其他方案相比,这一软硬件的结合将代表最为尖端的技术同时为客户省下上万美元的预算。”
