LCDDriverIC测试方法及其对测试系统提出的挑战(2)>假设被测的是256色、384LCD输出且具有Dot翻转功能的IC,那么由公式可得需要测试的电压值个数为：256（颜色深度）ｘ384（pin数）ｘ2(Dot翻转）＝196,608一般的DC测试部件的测试时间为几到几十个uS,由此可知测试时间将会比较长。如果IC的色彩深度高一些的话（65535色）,测试时间根本无法让人接受,因此在进行此类测试时需要使用数字采样器（Digitizer）来连续地进行电压采样,这样就可
LCDDriver
IC测试方法及其对测试系统提出的挑战(2) >假设被测的是
256色、384 LCD输出且具有Dot 翻转功能的IC,那么由公式可得需要测试的电压值个数为：
256（颜色深度）ｘ384（
pin数）ｘ2(Dot 翻转） ＝196,608
一般的DC测试部件的测试时间为几到几十个uS,由此可知测试时间将会比较长。如果IC的色彩深度高一些的话（65535色）,测试时间根本无法让人接受,因此在进行此类测试时需要使用数字采样器（Digitizer）来连续地进行电压采样,这样就可以在很短的时间进行此项繁复的测试了。在这种情况下,由于LCD输出引脚数量很大,可以同时进行电压采样的数字采样器的数量与所需的测试时间成反比,增加同步工作的数字采样器的数量将会节约测试时间,大幅降低IC的相对生产成本,但是另一方面,数字采样器数量的提升会引起测试系统成本的上升,因此适当地将每几个LCD输出通道配备一个数字采样器是一个折中的解决方案,例如Advantest的T6371测试系统就是使用每八个LCD输出引脚配备一个数字采样器的配置方法。
另外,由于需要采样数据量巨大,数据运算也需要一定的时间,如果在数据采样的同时能够进行数据运算的工作的话,将大大缩短测试时间。目前这种工作方式在T6371测试系统上已经通过Double-bank AQM的构架实现。
（9） 其他
当然,由于各种LCD 器件差异、生产厂商的不同,以及IC内部构架的不同,各种LCD Driver IC都会具有一些独特的测试项目,应当根据实际情况选择测试项目。
LCD Driver IC的特点对测试系统提出的挑战
图4为常见LCD Driver IC的引脚分布：
>LCD Driver IC的输出引脚数量很大
虽然LCD显示器件规格的不断扩大（>
17inch）,但是行列驱动芯片的数量却基本上不变,这使得单个IC的LCD 驱动引脚的数目也就愈来愈多,许多LCD Driver IC的驱动引脚数已经达到700以上,参见下表,QXGA所需的LCD Driver输出引脚数目的计算公式为：
QXGA 2048（Pixel）×3（RGB）÷8（IC）＝768（Pin）。
SVGA ( 800 x 600 )
XGA ( 1024 x 768 ) 10.4”~
15”
SXGA ( 1280 x 1024 )
SXGA+ ( 1400 x 1050 ) 15”~17”
UXGA ( 1600 x 1
200) 17”
QXGA ( 2048 x 1536 ) 19”
这样在测试时就需要有大量的高电压模拟输出测试通道与之相对应,上述QXGA的source driver就要求测试系统单个测试头上的高电压模拟输出测试通道能够达到768或以上。不仅如此,现在有许多单个IC驱动的小屏幕液晶显示器件,由于其行列信号都由单个IC提供,假设是
240×180彩色显示,需要的LCD输出引脚就需要240×3＋180＝900个,因此对测试来说是一个比较大的挑战。
对于测试系统来说,一方面要对应于LCD Driver IC的特点而具备高精度、高频、低振幅电压的供给能力和海量的模拟输出引脚同时测试的功能。由于LCD Driver IC的驱动输出数可能会超过700个,那么就要求测试系统的单个测试头上具有700个以上甚至是
1000个以上的模拟输出测试通道。
