日前,德州仪器宣布推出一款可显著节约高速应用开发时间与成本的新型工具,能够使TI的高分辨率高速ADC实现快速的数字数据采集。该款新型的数据采集卡与软件帮助用户轻松评估ADC性能,并能够迅速为2.5G/3G无线基站、通信设备以及测试测量设备等各种系统应用选择最佳匹配的设备。TSW1100的数据采集速率高达170MSPS、分辨率高达16位、数据采集深度高达100万点。该器件可工作于单通道或双通道模式,因而可实现双通道ADC的同步采集。数据通
日前,德州仪器宣布推出一款可显著节约高速应用开发时间与成本的新型工具,能够使
TI的高分辨率高速
ADC 实现快速的数字数据采集。该款新型的数据采集卡与软件帮助用户轻松评估ADC 性能,并能够迅速为2.5G/3G 无线基站、通信设备以及测试测量设备等各种系统应用选择最佳匹配的设备。
TSW1
100 的数据采集速率高达 170 MSPS、分辨率高达
16 位、数据采集深度高达 100 万点。该器件可工作于单通道或双通道模式,因而可实现双通道 ADC 的同步采集。数据通过
USB 接口传输,利用个人电脑即可轻松控制。
过去,分析 ADC 性能常常需要采用成本高昂的逻辑分析仪,而且要遵循复杂的分析流程。TSW1100 ADC 避免了采用上述步骤的麻烦,因为通过其嵌入式逻辑分析仪模式即可提供准确的数据。用户还可利用配套的软件快速计算出 ADC 的性能参数,如信噪比 (
SNR) 与无杂散动态范围 (SFDR) 等。此外,该软件使用户还能够保存供未来分析的原始数据集或性能图。
