测试设计的新语言CTL
标准测试接口语言
标准测试接口语言（STIL）是1999年3月通过的,它是一个广泛的行业标准,开始的意图是从设计到制造整个期间使测试和测试设计（DFT）信息有明确和完整的通信。STIL标准包括几个扩展版本,有些已获通过,有些正在开发改变阶段。
通常,工程技术人员所谈论的STIL是指IEEE1450 .0,此扩展版本规定用于自动测试图形产生（ATPG）工具到测试程序图形产生工具传输向量和定时信息的标准数据格式。
在STIL通过时,业内已经有成熟的基于向量语言（如波形产生器语言WGL）的方案。STIL比已有的方案具有更有效的表示法。然而,在此语言中没有足够重要的新性能迫使可能的用户改变他们已有的基础结构。
尽管,此方案已存在一段时间,但一个完整、无缝STIL基DFT方案至今不能使用。没有一个完整方案和一个迫使改变的原因,则采用它是慢速的。
然而,随着SoC公司认识到STIL扩展型具有上市快,节省测试成本的显著特点,其支持的呼声增高。EDA、ATE和测试程序产生工具公司响应IP核和SoC供应商采用新标准基产品对STIL增长兴趣的呼声。随着STIL扩展型所具有的上市快,低测试成本的具体实现,围绕这些标准的市场继续建立。下面详述具有扩展型之一的P1450.6。
CTL基方案
IEEEP1450.6CTL（核测试语言）是STIL的一个扩展型,它为描述IP核和SoC测试信息生存标准格式。
CTL是针对SOCDFT的软件语言。可用CTL捕获测试器件系统中每个IP核所需的所有数据。CTL使测试相关信息在核供应商和与SoC测试有关的系统集成商中能明确通信。假若成功,则CTL和其他STIL扩展型一起将极大地使SoC的IP核和IP核测试再用变容易。
CTL所描绘设计信息如下：
Environment{
CTL mode-1{
//Mode Setup Seauence
//Structures
//Patterns Andtheirinfo
}
}
上述语言是CTL中设计配置中的分块表示。这些配置称之为测试模式。
为了处理不同设计的需求,语言采用指令序列,用STIL语法建立测试模式。对于每个测试模式,CTL提供适用的结构信息,设计终端的特性、测试应用相关的连通和测试图形。用CTL提供的关于核的测试信息,可以再用于与核有关的测试图形,在SoC上执行所有必须的DFT、ATPG和失效仿真操作以及完成测试呈现在核中的SoC逻辑。
CTL设计成允许采用的任何DET和测试方法。考虑到核的所有可能的集成情况,其语言必须完全描述每个已知的DFT概念和测试方法。这种通用性可使语言有很多其他应用。
可用CTL来执行分级DFT产做为设计环境和ATE环境之间一个信息丰富的测试接口。对于测试图形再用所生成的CTL结构支持在事件之后依赖协议管理的测试方法。例如,由一个接口提供的测试图形可变化为用另一个替代接口,用称之为重新对准目标的测试器图形要领来改善ATE利用。
一些主要从事EDA、ATE、IP核和SoC开发的公司已为半导体业提供CTL基DFT方案。由Synopsys、Agilent和ARM公司提供的初始CTL基方案已发布。ST公司也从事检验早期CTL基产品方案和积极地促进行业论坛工作。初始产品和工具已适用于用户,CTL被行业接受应很快。
CTL基EDA工具
Synopsys公司推出CTL基设计生成和ATPG支持工具。它的DFT CompilerTM SOCBIST 工具能产生核生成流（为核供应商输出CTL）和SoC集成流（对于下一级集成接受DFT/ATPG任务的核须CTL）见图1。另外,通过CTL采用分级DFT消除了与很大设计有关的问题,所给出的标准DFT工具具有处理设计的能力,这在以前是不可能提供的。
为了CTL尚未被通过,所以Synopsys设计工具流建立在形成标准的专用设计。为了确保用户平滑的DFT流,Synopsys公司与Agilent公司紧密合作开发的测试程序生成器和相关工具,特别是Agilent SmarTest PGCTL浏览器。
CTL基ATE
Agilent 公司的设计与测试之间接口标准化为加速IC产品开发提供一种最好的机会。
