安捷伦科技半导体测试事业部中国区总经理李香伟先生认为：“对于下一个新领域来讲,其驱动因素主要有数字化家庭、集成式手机、没有边界的办公室。这些因素的共同需求就是低成本、高集成度以及高速链路。”所以,芯片引脚数量、性能、速度、集成度等越来越高的发展趋势和测试成本越来越低的客户需求成为下一个新领域在测试方面面临的主要挑战。面对下一个新领域的测试模式如图1所示。到目前为止,采用高速链路的测试设备必然会降低其它
安捷伦科技半导体测试事业部中国区总经理李香伟先生认为：“对于下一个新领域来讲,其驱动因素主要有数字化家庭、集成式
手机、没有边界的办公室。这些因素的共同需求就是低成本、高集成度以及高速链路。”所以,芯片引脚数量、性能、速度、集成度等越来越高的发展趋势和测试成本越来越低的客户需求成为下一个新领域在测试方面面临的主要挑战。面对下一个新领域的测试模式如图1所示。
到目前为止,采用高速链路的测试设备必然会降低
其它方面的性能;自动测试设备(ATE)和工作台仪器采用的传统高速测试方法最大限度地覆盖了缺陷范围,但价格过于高昂;环回测试的成本较低,但不能充分地识别缺陷。BIST Assist 6.4作为Agilent 93000
SoC系列的扩展方案,同时融合了两者的优势。每张BIST Assist 6.4卡提供了工作速率达6.4 Gb/s的四个环路以及高达430 ps的可调抖动注入功能,且可定义生产参数。由于其尖端的速度范围,从而可为未来几代高速链路提供解决方案。此外,BIST Assist设置工具还提供了独特的图形用户界面,保证了快速生成和解释测试程序。“BIST Assist 6.4变革了各公司进行高速接口测试的方式,”李先生认为。
