数字信号微处理器TMS320F206的FLASH烧录详析
The analysis of burning program ontoFlashmemory inDSPTMS320F206
摘 要：本文以TI公司提供的PGMR20PP.ZIP烧录程序压缩包为例,详细介绍了此压缩包的文件构成、程序烧录的步骤、注意事项和错误信息及相应的解决办法。
关键词：微处理器;FLASH;烧录 1. 引言
---TMS320F206是TI公司生产的高性能定点DSP芯片,其片内具有32KB的闪烁存储器（FLASH）,利用闪烁存储器存储程序,不仅降低了成本,减小了体积,同时系统升级也很方便。当用户程序调试完成后,如何将程序烧录进FLASH以保证程序能够独立运行,本文就此问题进行了详细的分析。
---TI公司提供了PGMR20.ZIP和PGMR20PP.ZIP两个压缩包供不同用户烧录FLASH用,PGMR20.ZIP适用于采用ISA总线的XDS510型仿真器,PGMR20PP.ZIP适用于并口XDS510PP型仿真器,以后者为例,XDS510PP仿真器一端通过EPP并口与PC主机相联,另一端通过符合IEEE标准1149.1的JTAG口与DSP相连,其接线如图1所示。
---对FLASH的烧录必须按照“清零”--让所有位为零、“置1”--让所有位为1、“编程”--使选择位为0这样三步来进行,PGMR20PP.ZIP压缩包提供了两种方法即B0法和SARAM法来实现这样操作。
2. B0法
---所谓“B0法”是指利用DSP内的B0 RAM空间作为烧录程序的空间,利用B0法烧录时,清零、置1、编程的操作只能分别单独执行,这虽然影响效率,但对于调试和诊断确是非常有利的,实现B0法的批处理文件如下：
---①BTEST.BAT--测试程序;用于检测JTAG口与目标板的连接是否完好,在对FLASH烧录之前都要实施这一检测,若出错,则任何对FLASH的操作都将不能正确执行。
---②BC0.BAT--对FLASH 0清零的算法;BC1.BAT--对FLASH 1清零的算法。
---③BE0.BAT--对FLASH 0的置1算法;BE1.BAT--对FLASH 1的置1算法。
---④BP32K.BAT--例程。
---⑤BFLW0.BAT--对FLASH 0的编程算法;BFLW1.BAT--对FLASH 1的编程算法。
3. SARAM法
---所谓“SARAM法”是指利用DSP内的SARAM空间作为烧录程序的空间,它不再局限于B0法的单独执行,而是可以综合执行清零、置1、编程的操作,提高了效率。但是对于TMS320F240这种没有SARAM存储空间的DSP芯片就不能用此法,而只能用B0法。实现SARAM法的批处理文件如下：
---①STEST.BAT--测试程序,作用同B0法。
---②SCE0.BAT--对FLASH 0进行清零和置1的算法;SCE1.BAT--对FLASH 1进行清零和置1的算法;SARAM法允许在一个批处理文件中完成清零和置1的综合操作,但如果清零失败,将不会继续置1的操作而是会中止。
---③SP32K.BAT--例程。
---④SCEP0.BAT--对FLASH 0进行清零、置1并编程的算法; SCEP1.BAT--对FLASH 1进行清零、置1并编程的算法;同理,若清零、置1不能顺利完成,则不会进行编程操作而是会中止。
4.个性化的烧录法
---尽管有了B0法和SARAM法,但实际情况是多变的,而每个人的要求也是不同的,为此介绍一种个性化的烧录方法,其基本格式是：PRG2XXPP -[OPTIONS] C2XX_SPX.OUT NAME.OUT
----[OPTIONS]项的说明如表1所示。
---在表1中 -s 设定一个16进制数初始化变量PRG_option ,PRG_option说明见表2。
