美国国家半导体公司(NationalSemiconductorCorporation)推出两款全新的高速模拟接口芯片,为该公司的先进低电压差分信号传输(LVDS)芯片系列添加两个新型号。型号为SCAN921025H的串行器及型号为SCAN921226H的解串器可以输出高达10位的数字数据,而且可以利用底板或电缆的点至点差分互连线路将数据传送出去,操作频率甚至可高达20至80MHz。此外,这款串行/解串器芯片组可以在高达125°C的恶劣应用环境之中操作。汽车及工厂的操作环境非常
美国国家半导体公司 (National Semiconductor Corporation)推出两款全新的高速模拟接口芯片,为该公司的先进低电压差分信号传输 (LVDS) 芯片
系列添加两个新型号。型号为 SCAN921025H 的串行器及型号为 SCAN921226H 的解串器可以输出高达 10 位的数字数据,而且可以利用底板或电缆的点至点差分互连线路将数据传送出去,操作频率甚至可高达 20 至 80 MHz。此外,这款串行/解串器芯片组可以在高达 125°C 的恶劣应用环境之中操作。
汽车及工厂的操作环境非常恶劣,在这类环境中操作的串行/解串器必须能够承受极高的温度,而且必须可以进行相关的测试,确保即使在这样的环境之中连续操作,性能仍然可靠。例如,装设于汽车车顶密封盒内的摄录机必须可以在炎热的夏日正常操作。此外,
电子噪音较多的工厂必须采用性能更为可靠的串行/解串器,才可高速传送工业数据。为了确保可以在这样的环境之中进行系统测试,美国国家半导体更为 SCAN921025H 串行器及 SCAN921226H 解串器添加内置式自我测试 (BIST) 及 JTAG 这两个测试功能。
美国国家半导体通信接口部产品总监 Jeff Waters 表示：「由于这两款高速接口产品设有 JTAG 测试功能,而且可以在更广阔的温度范围内操作,因此我们相信美国国家半导体在这个市场上的占有率将可进一步提高。汽车及工业用的数据传送及显示系统需要稳定可靠的芯片为其提供支持。为此,美国国家半导体将会继续致力于开发创新的技术,确保这些系统不但坚固耐用,而且更容易测试,以满足不同的要求。]
SCAN921025H/SCAN921226H 串行/解串器芯片组的技术规格
美国国家半导体的高速 LVDS SCAN921025H 串行器可将 10 位宽的并行 LVCMOS/LVTTL 数据总线转为附有嵌入时钟的高速串行数据流。SCAN921226H 解串器收到 LVDS 串行数据流之后,便会将之转回 10 位宽、并附有时钟的并行数据流。
印刷电路板若果只有一条串行数据路径,不但有助精简电路板的线路设计,而且也可减少电缆及印刷电路板线迹 (trace) 的数目,以及缩小
连接器的体积,使系统成本得以大幅削减。此外,串行数据流附随时钟的设计也有助节省系统成本,因为这样可彻底解决时钟至数据及数据至数据的歪斜问题。
串行器一经通电之后,系统设计工程师可以选用同步模式,也可使用解串器的锁定随机数据功能。解串器只要利用同步模式,便可在指定的锁定时间内将信号锁定。
接收器只要利用锁定随机数据功能,便无需系统介入或借助训练图案 (training patterns),也无需依靠准确的参考时钟,便可自动对准原始数据同步操作。此外,部分接收器电路板不会为发射器电路板提供反馈信号,对于连接这类电路板的电缆来说,这个功能非常有用。
SCAN921025H 串行器及 SCAN921226H 解串器可在 20MHz 与 80MHz 之间的频率范围内操作,数据传送速度更可高达 200Mbps 至 800Mbps。
这款串行/解串器芯片组可以支持 IEEE 1149.1 标准的边界扫描测试功能。按照 IEEE 1149.1 标准的规定,系统必须设有标准的测试访问端口 (
TAP),以便设计或测试工程师可以通过这个端口进入底板或电缆的互连线路验证差分信号的完整性。这款芯片组也设有按照不同速度进行的内置式自我测试 (at-speed BIST) 模式,确保工程师可在不同速度下验证串行器及解串器之间的
数据传输通道。
