美国国家半导体推出三款LVDS芯片系列的新产品
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美国国家半导体推出三款LVDS芯片系列的新产品  2012/3/1
美国国家半导体公司(NationalSemiconductorCorporation)宣布推出三款全新的高速接口产品,为该公司的先进低电压差分信号传输(LVDS)芯片系列添加多个新型号。新推出的SCAN92182118位LVDS双串行器设有预增强、JTAG测试及业内最高上限的静电释放保护等功能,务求能加强高速接口芯片的驱动能力,以及扩大其传送距离。另一款型号为SCAN90CP02的1.5Gbps2x2LVDS交叉点开关除了设有JTAG测试功能之外,还有上限极高的静电释放保护功能及可配置的
 

美国国家半导体公司(National Semiconductor Corporation)宣布推出三款全新的高速接口产品,为该公司的先进低电压差分信号传输(LVDS)芯片系列添加多个新型号。

新推出的SCAN921821 18位LVDS双串行器设有预增强、JTAG测试及业内最高上限的静电释放保护等功能,务求能加强高速接口芯片的驱动能力,以及扩大其传送距离。另一款型号为SCAN90CP02的1.5 Gbps 2 x 2 LVDS交叉点开关除了设有JTAG测试功能之外,还有上限极高的静电释放保护功能及可配置的预增强功能。此外,美国国家半导体又为一直很受欢迎的DS90LV110 1:10 LVDS中继器添加了故障防护模式,这款全新的中继器是该公司今次推出的另一款新产品。

 

 

 

设有预增强及JTAG测试功能的LVDS 18位双串行器

 

美国国家半导体的SCAN921821芯片是一款15至66 MHz的双串行器,设有预增强及IEEE1149.1的JTAG测试功能。这款芯片内含的两个串行器可各自传送净载荷高达1.188 Gbps的数据,使总传输量可高达2.376 Gbps。电缆及底板的损耗会产生符号间的干扰(ISI),导致确定性抖动的出现,影响线路的互连效果。SCAN921821芯片设有高达6dB的可编程预增强功能,可以减少符号间干扰所引致的抖动,令互连线路的驱动速度及传送距离可以大幅提高。SCAN921821芯片也设有IEEE 1149.1 JTAG及at-speed BIST自我测试等测试功能,可以减低电路板测试及测试开发方面的成本,而这款芯片的LVDS管脚更设有带电插接保护及高达12kV的静电释放保护功能。

 

LVDS 2 x 2 LVDS交叉点开关

 

美国国家半导体的SCAN90CP02芯片是一款设有可编程预增强功能的2 x 2 LVDS非块式交叉点开关,操作速度高达1.5Gbps。由于这款芯片设有预增强、优质信号保证以及高达6.5kV的静电释放保护功能,因此最适用于场可编程门阵列(FPGA)及特殊应用集成电路(ASIC)等芯片。可编程的预增强功能有助加强FPGA及ASIC的LVDS信号,以免有关信号在高损耗的底板及电缆之中被减弱。此外,卓越的6.5kV静电释放保护功能也有助保护这些昂贵的电路,确保进行带电插接时有关电路不会受释放出来的静电所影响。由于SCAN90CP02芯片采用2 x 2非块式的结构,因此也适用于需要提供冗余的系统及其他开关应用。SCAN90CP02芯片这个灵活的输入设计可与低电压差分信号传输(LVDS)、低电压正射极耦合逻辑(LVPECL)、共模逻辑(CML)及正射极耦合逻辑(PECL)等信号传输方式电子兼容。

 

设有故障防护功能的LVDS 1:10中继器

 

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