面向德州仪器超低功耗MSP430微控制器的新型快闪仿真工具提供了基于USB的低成本开发方.
日前,德州仪器 (TI) 宣布面向超低功耗MSP430 微控制器 (MCU) 推出通用串行总线 (USB) JTAG 调试接口 (MSP-FET430UIF) 以及 USB Development快闪仿真工具(FET) (MSP-FET430Uxx),从而进一步提高了代码开发、评估与编程的灵活性。Development FET 使用户能够直接连接到 USB 端口,而不用再与并行端口相连接（某些新型个人计算机 (PC) 不具备并行端口）,同时,通过 PC USB 端口,调试接口可与现有并行端口MSP430FET 配合使用以进行编程与调试。如欲了解有关新型 MSP430 USB 调试接口与 USB Development FET 的更多详情,敬请访问 /msp430fet。
开发人员可使用与 MSP430 目标插板连接的调试接口或已包括了目标插板的Development FET 作为完整工具进行开发、评估与编程。两套工具均采用标准 14引脚 JTAG 连接器与 MSP430 器件进行通信。
TI 负责 MSP430 市场营销的总监 Mark Buccini 说：“我们之所以为现有客户提供低价格的 USB 快闪仿真工具与 USB JTAG,其重要原因是 MSP430 超低功耗 MCU 的日益普及以及 USB 开发板的易用性与灵活性。JTAG 调试接口与 Development FET 使开发人员只需轻敲几个按键即可在几秒的时间内擦除闪存并对其进行编程,并且,由于 MSP430 快闪的功耗极低,因此无需任何外部电源。”
通过将 MSP430 快闪器件直接连接至 PC 的 USB 端口,USB JTAG 调试接口极大简化了设置以便于开发人员使用。该接口包括 KickStart 集成开发环境 (IDE) ,其可提供汇编程序、链接程序、仿真程序、源代码级调试程序和有限的 C 编译程序。其它特性还包括软件可配置电压（当电流为100mA 时,电压介于 1.8 与 3.6 伏之间）,以及可提供额外保护的 JTAG 保险丝,并可与现有 FET 及 JTAG 插板进行向后兼容。此外,JTAG 接口还配备了 USB 线缆与 14 导体目标线缆,以及光盘版的完整文档。该款新型 USB FET 能够与运行于 Win2000 与 WinXP 环境下的 USB 1.0 与 USB 2.0 兼容。
新型 USB Development FET 不仅包括 USB 调试接口的所有功能,而且还可提供 MSP430 目标插板。根据 MSP430 MCU 在此块板面上的封装引脚数,USB Development FET 可提供以下部件：
USB FET 工具 引脚数
MSP-FET430U28 20/28 引脚 DW
MSP-FET430U64 64 引脚 PM、PAG
MSP-FET430U80 80 引脚 PN
MSP-FET430U100 100 引脚 PZ
完整的 MSP430 FET 解决方案
随着新型 MSP430 FET 的推出,客户拥有了一套完整的开发工具,为现在及未来的并行或 USB PC 端口设计提供支持。这两套工具均可支持所有 MSP430 快闪器件的开发。
USB PC 端口 FET 解决方案：
