| 型号 | 制造商 | 描述 | 库存 | 起订量 | 参考单价 (含税) | 货期 (工作日) | 操作 |
| SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 查看库存、价格及货期 | ||||
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PDF查询| 数据列表 | SN54LVTH18(2)504A, SN74LVTH18(2)504A |
|---|---|
| 产品相片 | 64-LQFP-PM |
| 标准包装 | 160 |
| 类别 | 集成电路 (IC) |
| 家庭 | 逻辑 - 专用逻辑 |
| 系列 | 74LVTH |
| 包装 | 托盘 |
| 逻辑类型 | ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 |
| 电源电压 | 2.7 V ~ 3.6 V |
| 位数 | 20 |
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商器件封装 | 64-LQFP（10x10） |
