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SN74BCT8240ANT
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - SN74BCT8240ANT
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SN74BCT8240ANT
制造商型号:
SN74BCT8240ANT
制造商:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
技术参考:
PDF查询
库存状态:
实时库存查询
所在地:
深圳全新原装现货
备注:
代理销售世界各大品牌电子元器件,大量全新原装正品现货
订购热线:
400-900-3095, QQ:
800152669
, Email:
sales@szcwdz.com
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产品信息
数据列表
SN54/74BCT8240A
产品相片
24-DIP
标准包装
60
类别
集成电路 (IC)
家庭
逻辑 - 专用逻辑
系列
74BCT
包装
管件
逻辑类型
扫描测试设备,带反相缓冲器
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
8
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
通孔
封装/外壳
24-DIP(0.300",7.62mm)
供应商器件封装
24-PDIP
手机网站相关详细信息:
SN74BCT8240ANT
旗下站点
www.szcwdz.cn
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型号: SN74BCT8240ANT 品牌: Texas Instruments 备注: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
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