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型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
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型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
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SN74ABT8652DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 查看库存、价格及货期 |
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Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP 详细描述:Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP 型号:SN74ABT8652DL 仓库库存编号:296-4114-5-ND 别名:296-4114-5 | 无铅 | 搜索 | |
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 详细描述:Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP 型号:SN74ABT8652DLR 仓库库存编号:SN74ABT8652DLR-ND | 无铅 | 搜索 | |
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 详细描述:Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP 型号:SN74ABT8652DLG4 仓库库存编号:SN74ABT8652DLG4-ND | 无铅 | 搜索 | |
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 详细描述:Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP 型号:SN74ABT8652DLRG4 仓库库存编号:SN74ABT8652DLRG4-ND | 无铅 | 搜索 |
数据列表 | SN54/74ABT8652 |
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产品相片 | 28-SOIC |
标准包装 | 40 |
类别 | 集成电路 (IC) |
家庭 | 逻辑 - 专用逻辑 |
系列 | 74ABT |
包装 | 管件 |
逻辑类型 | 扫描测试设备,带总线收发器和寄存器 |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
位数 | 8 |
工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 |
封装/外壳 | 28-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
供应商器件封装 | 28-SSOP |
产品目录页面 | 925 (CN2011-ZH PDF) |
其它名称 | 296-4114-5 |