型号 | 制造商 | 描述 | 库存 | 起订量 | 参考单价 (含税) | 货期 (工作日) | 操作 |
SN74ABT8646DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 查看库存、价格及货期 |
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SN74ABT8646DWRG4 Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 查价格库存 查看详细 |
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Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 详细描述:Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC 型号:SN74ABT8646DWRG4 仓库库存编号:SN74ABT8646DWRG4-ND | 无铅 | 搜索 |
数据列表 | SN54/74ABT8646 |
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产品相片 | 28-SOIC |
标准包装 | 1,000 |
类别 | 集成电路 (IC) |
家庭 | 逻辑 - 专用逻辑 |
系列 | 74ABT |
包装 | 带卷 (TR) |
逻辑类型 | 扫描测试设备,带总线收发器和寄存器 |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
位数 | 8 |
工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 |
封装/外壳 | 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
供应商器件封装 | 28-SOIC |