传输延迟测试条件 | 50pF | |
元件数目 | 4 | |
安装类型 | 通孔 | |
宽度 | 6.48mm | |
封装类型 | PDIP | |
尺寸 | 19.5 x 6.48 x 3.2mm | |
引脚数目 | 14 | |
最低工作温度 | -40 °C | |
最大低电平输出电流 | 3.6mA | |
最大工作电源电压 | 15 V | |
最大高电平输出电流 | -3.6mA | |
最小工作电源电压 | 3 V | |
最长传播延迟时间@最长CL | 120 ns @ 5 V, 40 ns @ 15 V, 50 ns @ 10 V | |
最高工作温度 | +85 °C | |
逻辑功能 | NAND | |
逻辑系列 | HEF4000 | |
长度 | 19.5mm | |
高度 | 3.2mm |